报告人：李建伟
时间：2013年9月25号下午3:30
地点：7#321
题目：尺寸、温度、压强及其耦合对ZnO 的物性调控机理研究
摘要：ZnO在其尺寸（纳米）和形状以及外界温度、压强变化时显示出反常的力光电学性能，现存理论模型在处理这些问题时均遇到了不同程度的困难与阻力，难以为ZnO器件的设计和组装提供有效的理论指导；由于ZnO具有巨大的应用前景，因此迫切需要改善现有理论或寻找新的理论模型来揭示尺寸、温度及压强对ZnO的物性影响的关键因素和物理机制。基于我们近期发展的键弛豫理论和局域键平均近似，从材料化学键的形成，断裂，振动和弛豫以及相应的能量和电子的量子钉扎、极化、局域化和致密化角度出发，从理论上探讨了尺寸、温度、压强及其耦合对ZnO的弹性模量、禁带宽度、拉曼频移及熔点影响的关键因素、内在物理机制以及变化规律的内在联系, 发展和完善键驰豫理论系统，从而为低维ZnO的研究及器件设计和组装提供理论基础。
